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研发避“坑”指南:孙永伟博士解析成果转化,创新方法化身破局神器
发布时间:2025-10-23

2025年10月22日,在苏州举办的2025年第四届半导体光电及激光智能制造技术暨硅基光电子技术论坛上,TRIZ五级大师(TRIZ Master)、DFSS黑带大师孙永伟博士发表了题为《#成果转化与创新方法》的主旨报告,为与会专家深度剖析了从技术突破到产品成功的核心挑战与应对策略。

孙博士在报告中首先阐述了科学、技术、工程三者的联系和区别,三者看上去类似,但实际上有着本质的不同,所遵循的规律也不同。产品(工程)作为技术成果的归宿,往往需要解决大量的问题,产品化之路往往问题丛生,挑战层出不穷。以“木桶效应”为喻,生动阐释了产品成功的法则:任何一个需求没有被满足,都将导致产品的最终失败。所谓产品最后一公里的失败只是一个表象,其根源往往在于第一公里就已埋下的隐患。此外,针对产品化过程中的各种问题,报告系统性地介绍了多种已被成功产品验证的应对策略。最后,追溯至研发的源头,强调了需求全面识别的重要性。

在随后的互动环节,当与会专家问及研发中最重要的几类问题时,孙博士分享了一个深刻的观点转变:十年前,答案或许是解决技术问题;但历经众多项目沉淀后,现在的答案则是需求的识别。凡是能够识别出来的需求,均可通过有效策略进行管理与规避;但如果无法识别出来,就不会被解决,则如同埋藏在项目进程中的地雷,不可避免地引发项目返工,导致延期甚至失败。

当孙博士回答完这个问题后,又被追问有没有什么办法能够应对这一核心挑战,孙博士表明目前已经有不少的工具可以应对,例如CTQ下展(客户需求展开)、QFD(质量功能展开)等工具,为全面需求的系统性识别提供了行之有效的方法论支撑。

报告引发了热烈反响。演讲结束后,孙博士被多位企业代表围拢,进行深度交流。与会者普遍表示报告内容切中要害,直击研发痛点,引发了强烈共鸣,并表达了希望进一步学习先进方法论的迫切意愿。#方法论

本次报告旨在揭示成果转化过程中的核心症结与应对之道,助力更多研发团队规避陷阱,提升创新成功率,让科技成果的转化之路更为顺畅,为半导体产业的高质量发展注入新的动能。



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作者简介:孙永伟,博士,注册六西格玛设计(DFSS)黑带大师,TRIZ五级大师,研发方法理论体系的提出者,对外经济贸易大学国际商学院实践教授,天津大学创新创业导师,TRIZ理论的畅销书《TRIZ打开创新之门的金钥匙I》和《TRIZ打开创新之门的金钥匙II》两本书的作者,目前已经获得授权的发明专利30余项。曾任GE(通用电气)全球研发中心工程师、GE能源集团黑带、GE油气集团项目经理等职。孙博士曾获得中国质量技术领域的全国质量技术奖。经他签发不同类别研发方法论认证证书的专家达5000多人,其中多位已经成为企业研发方法论推进负责人。20多年来,他一直在企业和研究机构的研发第一线,具有丰富的企业内部推进六西格玛和TRIZ等先进研发方法论的经验以及运用这些方法论解决实际问题的能力,曾多次受邀到德国、波兰等欧洲国家及韩国、马来西亚、印度等亚洲各国介绍方法论的推进经验。


邮箱:ywsun@yeah.net或sunyongwei@irdmi.org。


RDMI®(国际研发方法协会,The International Research and Development Methodologies Institute)致力于将全球领先企业在研发项目中起到关键作用的方法论进行研究、提炼、融合,并加以推广,以提升工程师的研发能力,从而提高企业的研发水平,助力企业开发出高质量的产品。RDMI®关注的研发方法论对应于解决企业研发过程中遇到的不同层面的问题,从战略层面到执行层面,从各个方面提高企业的研发水平。RDMI®关注的方法论包括但不限于NPI/IPD、DFSS(六西格玛设计)、专利战略、TRIZ(发明问题解决理论)、FMEA(潜在失效模式及后果分析)、DoE(试验设计)、创新降本等。目前,RDMI®已在广州、武汉、苏州、哈尔滨、成都、上海、香港等地设立了中心。


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